La prochaine session du séminaire SemSecuElec (Sécurité des systèmes électroniques embarqués) aura lieu le Vendredi 19 Avril de 10h à 12h.
Le programme de cette session est le suivant :
10h - 12h : Louis DUBOIS, DGA / ANSSI
Titre : Contrôle de PLL par injection répétée de fautes
Résumé : Je présenterai une méthodologie permettant d’optimiser le coût de réalisation d’une attaque par injection de fautes, en se basant sur des moyens d'injection localisés spatialement (induction magnétique, effet photoélectrique, polarisation de substrat). Concrètement, j'étudie comment l'injection de fautes répétées sur une PLL – brique de base présente dans la plupart des circuits intégrés, et utilisée afin de générer des signaux d’horloges stables - permet d'en modifier la fréquence de sortie, et ce de manière contrôlée. Dans la mesure où la modification du signal d’horloge d’un circuit peut en modifiant le comportement, et induire des fautes, ces résultats ont des conséquences sur la sécurité, ainsi que la compatibilité EM, des composants. Enfin, je présenterai les résultats expérimentaux réalisés jusqu'alors : validation du modèle de contrôle de la fréquence de la PLL, et application pour l'injection de fautes logicielles sur des microcontrôleurs.
11h - 12h : Tristan Dubois, professeur assistant, IMS Bordeaux
Titre : Les IEMIs : de la susceptibilité du composant au système
Résumé : Les interférences électromagnétiques intentionnelles sont des rayonnements électromagnétiques émis dans le but de générer des dysfonctionnements au sein des objets électroniques. En fonction des signaux utilisés pour générer ces interférences, les dysfonctionnements peuvent aller de la destruction à de simples perturbations du fonctionnement de l’objet testé. Bien que plusieurs études et publications présentent des résultats de destruction et de perturbation de composants et objets électroniques, les formes d’onde d’agression sont généralement « relativement simples » (purement sinusoïdale, impulsionnelle modulée, …). Très peu d’étude propose d’explorer l’effet de formes d’onde plus complexes d’agression électromagnétique sur la susceptibilité de composants électroniques. La présentation propose une approche « Bottom-Up » dont le but est d’étudier exhaustivement la susceptibilité au niveau composant et d’optimiser les formes d’onde d’agression pour une perturbation au niveau système. Ce travail devrait, à terme, permettre de déterminer une méthodologie et des formes d’onde à utiliser lors de tests de qualification, ainsi que de proposer des règles de conception pour durcir les objets électroniques.
Le séminaire est ouvert à tous en présentiel et en distanciel.
Pour assister au séminaire en présentiel, l'inscription est obligatoire au moins 48h à l'avance pour tous les participants en présentiel auprès de Nadia Derouault <nadia [*] derouault
inria [*] fr>. Les participants externes devront se présenter à l'accueil avec une pièce d'identité.
Le séminaire aura lieu dans les locaux de l'Inria Rennes, salle Turing-Petri.
Ci-dessous les informations de connexion à la visioconférence :
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