rfia-jeron-marchand-cordier-06

T. Jéron, H. Marchand, M-O. Cordier. Motifs de surveillance pour le diagnostics de systèmes à événements discrets finis. In 15e congrès francophone AFRIF-AFIA Reconnaissance des Formes et Intelligence Artificielle, Tours, France, January 2006.

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Abstract

Dans cet article, nous nous intéressons au diagnostic dans les systèmes de transition finis. Nous proposons un modèle de motifs de surveillance correspondant à des propriétés d'atteignabilité. Ceci permet de généraliser les propriétés à diagnostiquer tout en les découplant de la description du système. Nous en déduisons des techniques de vérification de diagnosticabilité et de construction de diagnostiqueur fondées sur des opérations standards sur les systèmes de transitions. Nous montrons que ces techniques sont suffisamment générales pour exprimer et résoudre de manière unifiée une classe importante de problèmes de diagnostic considérés dans la littérature comme le diagnostic de pannes permanentes, de pannes multiples, de séquences de pannes, et certains problèmes de diagnostic de pannes intermittentes

Contact

Thierry Jéron http://www.irisa.fr/prive/jeron
Hervé Marchand http://www.irisa.fr/prive/hmarchan

BibTex Reference

@InProceedings{rfia-jeron-marchand-cordier-06,
   Author = {Jéron, T. and Marchand, H. and Cordier, M-O.},
   Title = {Motifs de surveillance pour le diagnostics de systèmes à événements discrets finis},
   BookTitle = {15e congrès francophone AFRIF-AFIA Reconnaissance des Formes et Intelligence Artificielle},
   Address = {Tours, France},
   Month = {January},
   Year = {2006}
}

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