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Génération de tests avec des modèles de vrai parallélisme
Localisation :Irisa, Rennes
Mot-clés : Génie logiciel, Test, Méthodes formelles, Parallélisme,
Distribution, Telecom.
Financement : à définir.
Sujet : L'équipe Pampa a développé depuis plusieurs années
une méthode de génération de tests pour les systèmes réactifs (TGV).
La théorie et l'algorithmique sont fondées sur une représentation
des spécifications (objet à tester, objectif de test, test lui-même)
sous forme de graphes états-transitions (automates). Ce modèle est
simple et est largement utilisé pour tout ce qui ressemble à de
l'analyse formelle de programmes répartis. Il a pourtant un défaut
majeur, c'est qu'il ne contient aucune information sur le parallélisme
possible entre les actions des programmes. En pratique, on fait
comme si l'objet à tester pouvait être abstrait en une machine séquentielle.
Cette vision trouve ses limites lorsque l'on veut s'intéresser à
de nouvelles formes de test dans les systèmes répartis. Dans le
contexte réparti, non seulement le système à tester est parallèle,
mais on souhaite aussi que le test soit aussi parallèle : le testeur
est lui-même un réseau parallèle de testeurs. Par ailleurs, il existe
des modèles d'automates incluant du parallélisme comme celui des
structures d'événements (ou des dépliages de réseaux de Petri),
décrivant non plus des séquences mais des ordres partiels. La tentation
est donc grande d'essayer de reprendre notre démarche de test en
utilisant ce nouveau type de modèle et utiliser l'information de
parallélisme pour générer du parallélisme dans les tests. Des travaux
récents montrent la possibilité pratique de générer des structures
d'événements à partir de spécifications de type automates communicants.
L'objectif de la thèse est de revoir complètement la chaîne de génération
TGV (depuis des spécifications dans le langage SDL vers des cas
de test dans le langage TTCN) en utilisant le modèle intermédiaire
des structures d'événements. Il s'agit d'un sujet comportant à la
fois des aspects fondamentaux (utilisation d'un nouveau modèle resté
confiné jusqu'alors dans le milieu de l'informatique théorique)
et des aspects appliqués (méthodologie pour la génération de tests,
validation expérimentale souhaitée). Il bénéficie aussi d'un intérêt
réel de la part du monde industriel.
Pour en savoir plus : http://www.irisa.fr/pampa/
File translated from TEX
by TTH,
version 2.25.
On 8 Mar 2000, 15:33. |