Cette conférence spécialisée sur les principes du diagnostic rassemble chaque année les chercheurs et les industriels intéressés par les apports de l'intelligence artificielle au diagnostic et à la supervision de procédés industriels.

Les conférences précédentes ont eu lieu à Val Morin (Canada) en 1996, à Goslar (Allemagne) en 1995, New Paltz (USA) en 1994, Aberystwyth (GB) en 1993, Washington State ( USA) en 1992, Milan (Italie) en 1991, Stanford University (USA) en 1990 et à Paris (France) en 1989 (le numéro 0). Elle se tiendra cette année au Mont Saint-Michel en septembre.

Les principaux thèmes abordés sont la théorie du diagnostic et, en particulier, le diagnostic à base de modèles ; les problèmes de modélisation, qu'il s'agisse de modélisation qualitative, logique, fonctionnelle, probabilistique ou des problèmes posés par l'utilisation de modèle multiples ; la surveillance de systèmes dynamiques et le traitement des informations temporelles ; le lien entre diagnostic et réparation ; les connections entre diagnostic et les domaines proches tels que le déboggage de programmes ou la vérification de circuits. Une part toute particulière est donnée à la description d'applications réelles dans les domaines variés suivants : procédés chimiques, thermiques ; applications électriques ou électroniques ; médecine, ...

Afin de permettre à la communauté du diagnostic de comparer les approches diverses autour d'applications de référence, une partie des soumissions est orientée vers la description de problèmes réels, incluant la liste des données et les résultats attendus, ainsi que la mise à disposition de données de test.

Les articles soumis à cette conférence spécialisée sont évalués par un comité de programme sur des critères scientifiques stricts ; les articles acceptés sont présentés lors de la conférence et sont publiés dans des actes.

Composition du comité d'organisation scientifique :